亚微米粒径电位检测仪

亚微米粒径电位检测仪
基本概述：
PSS生产的颗粒检测和分析仪器分别采用动态光散射技术（dynamic light scattering, DLS）和光阻法（Light obscuration or light extinction,  也有人称之 为“消光法”，）技术以及专利的单颗粒（Single Particle Optical Sizing, SPOS）技 术，检测范围从纳米到微米级，既可以检测平均粒径，zeta电位值，又可以对产品中的颗粒进行计数 ，尤其对于其他光散射或者光衍射方法检测不到的极少数的大粒子（Large Particle Count, LPC）， 可以精准地检测出。目前PSS粒度仪是市场上*一家能够提供高分辨率的自动单颗粒技术的粒径分析 仪。
380 Z3000 亚微米粒径电位检测仪 工作原理：
动态光散射法(DLS)，有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用最新技术，粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。 悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。 分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。
将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块收专利保护，其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。
多角度检测系统模块
提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。
想要了解更多详细信息，请咨询站内：http://www.china-pss.com/sjxd-SonList-941037/
http://www.chem17.com/st277818/erlist_941037.html