姚先生：15989858491
TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，云用更先进之零組件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统於ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC 保护二极体之测试程式 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 系統具自我针断功能及远端遙控功能 Board View功能可即時显示不良元件、针点之位置，方便 检修 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物 安全性最高 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，最高可达3584 测试点 可加装调整装置具动态调整功能 多重安全性设计，确实保障操作人员 率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空 焊问题，效果最佳 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题 辅助学习模组可检测IC反向问题 漏电流量测方式可辅助检测电容极性达50-60% 选项功能强大，可针对不同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测 具备1MHZ信号源，可精确量测小电容小电感 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对 Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插 问题 具Pin Contact检查功能
TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，云用更先进之零組件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统於ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC 保护二极体之测试程式 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 系統具自我针断功能及远端遙控功能 Board View功能可即時显示不良元件、针点之位置，方便 检修 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物 安全性最高 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，最高可达3584 测试点 可加装调整装置具动态调整功能 多重安全性设计，确实保障操作人员 率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空 焊问题，效果最佳 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题 辅助学习模组可检测IC反向问题 漏电流量测方式可辅助检测电容极性达50-60% 选项功能强大，可针对不同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测 具备1MHZ信号源，可精确量测小电容小电感 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对 Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插 问题 具Pin Contact检查功能
