X-Strata980X荧光测厚仪

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商家资料
 
 X-Strata980X荧光测厚仪性能特点  
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求  
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm  
采用高度定位激光,可自动定位测试高度  
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐  
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点  
高分辨率探头使分析结果更加精准  
良好的射线屏蔽作用  
测试口高度敏感性传感器保护  
X-Strata980X荧光测厚仪应用领域  
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.  
金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。  
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。  
X-Strata980X荧光测厚仪  
·电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。超大探测器灵敏窗口大幅提高了计数率——大多数的分析能在数秒或数分种内完成。灵活组合运用五个初级滤波器,使X光管激发效率达到较佳,得到zui优的应用效果。仪器测量直径zui小可达到150微米。可供选择的准直器直径有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。特别设计的铝钛板在检测轻制样品时能大幅降低背景噪音,从而达到更低的检测下限。对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测

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