膜厚检测仪器,膜厚分析仪器,膜厚测试仪规格介绍
X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量
应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。
CMI900收二手膜厚仪、旧膜厚测试仪特点
1、激光非接触测量，不损伤工件。
2、高数据采集频率，保证高效率测量。
3、激光测头精度<1um，保证高精度测量。
4、外形设计美观，内部紧凑，体积小。
5、模组化设计，组装维护更方便。
6、丝杆传动，低噪音，定位准确，运行更平稳。
7、高集成化电路设计，智能判断故障点。
8、新版CNC软件，界面友好，操作简单，稳定性强。
CMI900收二手膜厚仪、旧膜厚测试仪
X射线荧光镀层测厚仪有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
二手膜厚仪http://www.0755djt.com/Products-9744402.html
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