国内生产的HR-AFM原子力显微镜
标准工作模式：轻敲模式(Vibrationmode)，接触模式(Contactmode)，相位成像模式(Phaseimaging)，横向力模式(LFM)，力曲线测试（ForceCurve），纳米操控（Nanomanipulation），纳米刻蚀（Nanolithography），力矩阵模式（ForceMapping），摩擦力测试（FrictionMode）
可选工作模式：导电原子力显微镜（C-AFM），磁力显微镜（MFM），静电力显微镜（EFM）,扫描电势显微镜（SKPM）。
spm扫描探针显微镜具有软件自动进针功能。通过软件控制Z方向马达实现探针自动进针
X,Y,Z三轴分离的扫描器
扫描范围100×100×17μm
Z轴分辨率0.035nm
样品台尺寸：25mm*25mm*18mm
操作软件：使用Laview环境语言控制，免费提供操作软件，并提供维护及升级
提供GwyddionIMAGEANALYSISSOFTWARE数据分析系统
顶视系统光学分辨率≤2微米
视场范围从2mm*2mm到300um*300um可调，放大倍率从45倍到400倍机械可调
侧视系统，提供可视化下针，可以通过电脑精确观察控制下针过程，防止撞针
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