测量分析显微镜是一种兼顾影像、目视与纳米高度测量多用的高精度、高效率测量仪器。该产品具有电视成像与目视光学两套瞄准系统，可人工观察金属表面的金相组织结构，是集光、机、电、算、影像于一体的显微镜。该产品以二维测量为主，也可作三维辅助测量，广泛应用于电子组件、精密模具、塑料、PCB加工方面、镀膜厚度、手机玻璃等工业领域。
测量分析显微镜技术规格参数：
型号PZ-3020MA
工作台金属台尺寸(mm)500 x 330
玻璃台尺寸(mm)350 x 250
X、Y轴运动行程(mm)300 x 200
手动Z轴行程(mm)120
自动Z轴行程(mm)2
外形尺寸(mm)825 x 660 x 910
仪器重量(kg)130
X、Y、Z轴分辨力(μm)0.5
自动Z轴分辨力(μm)0.1
示值误差(μm)E1XY=( 2.5+ L/100) μm (L为测量长度，单位mm)
物镜放大倍数误差包括畸变在内的放大率误差≦0.08%
落射照明光源可调高亮度卤素灯
底光照明光源可调高亮度LED灯源
目视系统影像系统
物镜放大倍数5X、10X、20X、50X5X、10X、20X、50X;10X Mirau物镜
目镜放大倍数10X双镜筒1/2”CCD摄像机
视频总倍率50X ~500x142.5X ~1425X (19.5”显示器，分辨率1440 x 900)
测量分析显微镜产品链接：
http://www.bjpzcs.com/SonList-1759227.html
https://www.chem17.com/st393400/erlist_1759227.html
